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仪器简介：
新一代Zetasizer Nano ZS可以为胶体和聚合物化学专家提供综合测量三项最重要参数的能力，即粒度、zeta 电位和分子量。
这些系统中内置了新技术，提供无比的灵敏性和多功能性。
粒度 - NIBS 技术可以对粒径范围0.3 纳米至 10 微米的颗粒和分子进行测量。
Zeta 电位 - M3-PALS 技术能够对水分散和非水分散体系中的 zeta 电位进行精确的测量。
分子量 - 雪崩光电二极管检测器和光纤检测光学装置提供测量绝对分子量所需的灵敏度和稳定性。
Zetasizer Nano ZS中,可根据实际应用选择Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型号
Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano ZS中的佼佼者，能够测量所有三项参数，而且性能丝毫不减。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用独特的一次性 zeta 电位样品池，避免样品之间的交叉污染。
所有系统均可与 MPT-2 自动滴定仪连接使用，实现趋势测量和样品制备的自动化。
技术参数：
粒径测量
最大粒径范围: 0.3 nm - 10 μm *
浓度范围: 0.1ppm – 40% w/v *
检测角度: 175o 和 12.8o
最小样品量: 12 μl
Zeta电位测量
Zeta电位范围: 无实际限制
电泳迁移率: 0 – 无实际上限
最大样品电导率: 200mS/cm
最大样品浓度: 40% w/v
最小样品量: 150 μl
粒径范围: 3.8nm - 100 μm *
分子量测量
分子量范围 342 - 2 ×107 Da * (动态光散射)
980 - 2 ×107 Da * (静态光散射)
最小样品量 12 μl
* 取决于样品
主要特点：
融合多项专利技术 挑战颗粒表征极限
粒度范围极宽:0.3-- 10 μml
l 浓度范围广: 0.1ppm—40%(w/v)
测量绝对分子量l
高分辨率高灵敏度Zeta电位测量 l
最新专利zeta电位样品池具有所需样品量低至150 μl 和检测高浓度样品最高至40%(依赖于样品)的极限能力
多项专利技术
l 马尔文专利NIBS非侵入背侧光散射技术使仪器具有最高灵敏性
l 马尔文专利的新一代PALS+M3技术,将最优的硬件与软件技术相结合,有效检测散射光的相位变化
马尔文专利的毛细管样品池电极组件,真正避免交叉污染l
强大多功能系统
世界公认最优的APD检测器,灵敏度无出其右l
特制高性能He-Ne激光器,提供更高的稳定性l
l 标准配置研究级高速数字相关器
175度和12.8度相结合的双角度测量模式,洞悉体系中的缔合物含量l