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TSQ Quantum XLS

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赛默飞世尔公司TSQ Quantum XLS是用于GC/MS痕量分析的三重四极杆串接气质的创新产品。高选择反应监测模式(H-SRM)进一步提高了复杂基质中化合物分析的选择性。结构选择监测使用快速且高分辨的多反应监测模式(MRM),非常适合同时分析大量目标化合物。高精密加工的长双曲面四极杆能够提供更高的质量分辨率,不受基质干扰,保证出色的目标化合物选择性。从而免受持续的基质干扰影响。独特的90度弯曲碰撞室能够在无背景干扰的MRM色谱图上获得高信噪比的色谱峰。离轴设计的高增益离子检测器配备高电压转换打拿极,不会产生噪音信号。TSQ Quantum XLS产品为您提供:低至fg级的灵敏度。利用结构选择监测(SSD)可在复杂基质样品分析中获得最可靠的定量结果。配置IRIS技术的DuraBrite高灵敏度离子源可提供超长的运行时间和EI、CI模式下出色的灵敏度。高精度双曲面四极杆技术为最具挑战性的样品提供了更好的选择性和灵敏度。超惰性的可更换离子盒,无需卸真空便可进行快速的维护操作。H-SRM检测模式为复杂基质样品中的目标化合物提供更高的质量分辨率和最高的分析选择性。当作为单四极杆使用时,H-SIM提高了选择离子监测模式(SIM)的选择性。免维护设计,无需清洗和更换四极杆。Timed SRM-可检测目标化合物数目没有限制并且保证最高灵敏度。一针进样可分析更多目标化合物。

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